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高容量的电容量测时更易有容值偏低现象

发布日期:2019-05-13  作者:manbetx万博
  高容量的电容量测时更易有容值偏低现象 高容量的电容量测时更易有容值偏低现象,首要原因是电容两头的实践施加电压无法高到测验条件需求所形成的。也就是说加在电容两头的电压因为仪器自身内部阻抗分压的原因与仪器显现的设定电压不同导致。当对老化的资料施加高于资料居里温度的高温,当环境温度回到常温后,资料的分子结构将会回到原始的状况资料将由此开端老化的又一个循环。处理对策在丈量电容容值时将仪器调校并将仪器的设定电压与实践加在产品两头所测电压尽量调整,使实践加载在待测物上的电压和输出电压相同。 测验条件对量测效果的影响的对策:关于不同容值的电容会采用不同的测验电压和测验频率来量测其容值。通过以上对贴片电容容量偏低的原因进行研究可知,在测验时呈现的电容容量偏低可能是内涵要素即电容原料自身特性形成的。也可能是外在要素即测验仪器、测验环境、测验方法等要素形成的,因此在实践运用通过中。关于保证因为以上要素形成的容量偏低的产品,在出产通过中没有必要在上线前行行容值康复动作。只须要将组件置于板上正常制作作业,产品进程回流焊或波峰焊后,即可康复正常容值。
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